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电性能测试方案
电性能测试方案
功率半导体电性能测试主要包括器件的动静态测试,NG体育官网推出了主要针对IGBT、SiC MOS?榈牡缧阅懿馐韵低。
动态测试系统产品优势
测试效率高,常规半桥模块测试UPH可达500Pcs;
杂感低,系统杂感小于20nH;
配置灵活,可根据客户被测件或具体测试要求,灵活配置测量探头;
支持QG测试、支持NTC测试;
可根据客户需求,选配ICES&VTH测试功能。
静态测试系统产品优势
测试效率高,常规半桥?椴馐訳PH可达1500Pcs;
魔盒设计,电流源、通道切换都是单板组建,可快捷更换维护;
通用性高,支持IGBT、SiC MOS测试,支持SiC测试标准,支持不同拓扑测试;
继电器寿命高,且具备寿命计数功能;
激励源回读,所有测试条件给到的电压、电流激励,都可以回读;
实验室模式下,各测试项的测试波形在上位机界面展示;
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